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日本asahi表面缺陷評(píng)估裝置ALTIS-RP

訪問(wèn)次數(shù)：1324

更新日期：2025-05-02

簡(jiǎn)要描述：

日本asahi表面缺陷評(píng)估裝置ALTIS-RP
切割樣品表面缺陷的評(píng)估和檢查
可以通過(guò)分辨率為 15 μm 的缺陷圖輕松校準(zhǔn)和驗(yàn)證。

類型	無(wú)損傷

日本asahi表面缺陷評(píng)估裝置ALTIS-RP

切割樣品表面缺陷的評(píng)估和檢查
可以通過(guò)分辨率為 15 μm 的缺陷圖輕松校準(zhǔn)和驗(yàn)證。

應(yīng)用/功能

它可以作為離線表面缺陷校準(zhǔn)的專家設(shè)備，這是質(zhì)量評(píng)估*的
。

設(shè)備配置

該設(shè)備是用戶安裝和連接的設(shè)備。
只需將檢測(cè)裝置和PC本體安裝在水平工作臺(tái)上，用兩條電纜連接檢測(cè)裝置和PC
本體即可完成安裝。

排隊(duì)

根據(jù)泛光燈的配置，ALTIS 分為三種類型。
請(qǐng)根據(jù)檢測(cè)對(duì)象和檢測(cè)缺陷進(jìn)行選擇，并在購(gòu)買時(shí)注明。

* ALTIS-P 可以定制為魚(yú)眼檢測(cè)模型作為選項(xiàng)。

各種畫(huà)面

檢查畫(huà)面



		掃描切割樣品以檢測(cè)缺陷。您可以在下面的四個(gè)屏幕上查看測(cè)試結(jié)果。

信息管理畫(huà)面（結(jié)果數(shù)據(jù)一覽）



		您可以使用與檢查相同的屏幕配置來(lái)檢查過(guò)去執(zhí)行的檢查的數(shù)據(jù)。您可以從過(guò)去的檢查結(jié)果中選擇任何數(shù)據(jù)，并將其以 CSV 格式保存到 USB 存儲(chǔ)器中。

	信息管理畫(huà)面（檢測(cè)圖顯示/原始圖像顯示/缺陷列表顯示/檢測(cè)圖像列表顯示）

	您可以在與測(cè)試時(shí)相同的四個(gè)屏幕上查看過(guò)去的測(cè)試結(jié)果。

濃度測(cè)量畫(huà)面



		您可以調(diào)出有缺陷圖像的濃度測(cè)量屏幕。在密度測(cè)量屏幕上，您可以分析缺陷的等級(jí)和大小。

檢查條件設(shè)定畫(huà)面



		多可以注冊(cè)100個(gè)品種。可以為每種產(chǎn)品類型注冊(cè) 各種設(shè)置，例如檢測(cè)靈敏度和尺寸。在檢查開(kāi)始時(shí)，只需選擇注冊(cè)品種即可設(shè)置適當(dāng)?shù)臋z查條件。

波形監(jiān)視器



		可以使用波形監(jiān)視器功能調(diào)整探測(cè)器（相機(jī)/泛光燈）。

* 設(shè)備啟動(dòng)時(shí)，每個(gè)屏幕上顯示的語(yǔ)言可以從日語(yǔ)、韓語(yǔ)和英語(yǔ)中選擇。

日本asahi表面缺陷評(píng)估裝置ALTIS-RP

規(guī)格


解析度	寬度方向 15 μm × 長(zhǎng)度方向 15 μm
相機(jī)	CCD線陣傳感器相機(jī)（單色）10680像素/80MHz
泛光燈	LED 線狀照明（可從以下選擇）、ALTIS-RP（反射/透射）、ALTIS-R（反射）、ALTIS-P（透射）
樣本量	尺寸：210mm x 297mm（A4 尺寸）厚度：0.05mm ~ 1.0mm
檢測(cè)判斷	明/暗漸變，寬度/長(zhǎng)度/面積
移動(dòng)速度	工作臺(tái)移動(dòng)速度 6 m/min。
檢查時(shí)間	約 15 秒（每張）
檢查范圍	拍攝范圍：160 mm x 230 mm (10680 pix. X 15333 pix.) 測(cè)量范圍：150 mm x 220 mm (10000 pix. X 14667 pix.) 圖像文件存儲(chǔ)容量：386 MB 圖像文件存儲(chǔ)容量：多800張
電源	AC100-220V 50 / 60Hz
擴(kuò)展總線：	PCI、PCI-Express (x4)
硬盤容量：	500GB

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