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更新日期：2025-05-02
簡要描述：
日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160OURSTEX 160型被?選為東京都政fu于2006年3月執(zhí)行的《環(huán)境安全條例》中用于土壤污染調查（重金屬等）的簡單快速分析技術（簡單分析方法）。
| 產品種類 | 便攜 |
|---|
日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160
OURSTEX 160型被?選為東京都政fu于2006年3月執(zhí)行的《環(huán)境安全條例》中用于土壤污染調查（重金屬等）的簡單快速分析技術（簡單分析方法）。
■用于工廠現(xiàn)場的土壤分析... ●可以進行無損且快速的成分分析。 ●緊湊輕巧，因此可以進行現(xiàn)場分析?！ 裉岣吡酸槍χ校亟饘僭氐撵`敏度?！ 馯tility僅適用于AC100V-5A。 ●設備內部是受控區(qū)域。
能量色散X射線熒光分析儀用來自X射線管的原始X射線輻照樣品，并使用半導體檢測器測量產生的X射線熒光，因此無論樣品的形狀如何，它都是非破壞性的元素定性的。樣品。?進行定量分析。
半導體檢測器使用不需要液氮冷卻的電子冷卻的硅漂移檢測器（SDD），并且可以與數(shù)字計數(shù)電路（DSP）結合使用以測量高分辨率和高計數(shù)率。
為了提高分析性能，準備了可以使能量分辨率和半導體檢測器的計數(shù)靈敏度z大化的激發(fā)光學系統(tǒng)的條件。
日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160
| 測量原理 | 能量色散X射線熒光分析方法 |
| 測量目標 | 用于土壤分析的環(huán)境樣品（固體/粉末/液體） |
| 測量元件 | 硫，鉻，砷，硒，鎘，汞，鉛（13 AI- 92 U） |
| 樣品形狀 | z大78mmφx 55mmH |
| 樣品室氣氛 | 氣氛 |
| X射線額定輸出 | 48kV，2mA高達50W |
| 探測器 | 電子冷卻的硅漂移檢測器 |
| 計數(shù)電路 | 數(shù)字處理方式 |
| 使用條款 | 溫度：5至27°C 濕度：20至75％ 電源：AC100V，5A（50 / 60Hz） 接地：D類接地 |
| 其他（可選） | 噴墨彩色打印機，鼠標 |
