為什么全球頂尖實驗室與制造商選擇MSP-100？

發(fā)布日期：2025-05-05      瀏覽次數：26

精準洞察光學特性，賦能材料研發(fā)與質控
——日本Shibuya Optical MSP-100反射率測量設備



在光學材料研發(fā)與精密制造領域，傳統反射率測量設備常面臨三大難題：微小樣品難聚焦、曲面/超薄件測量失真、數據效率低下。日本Shibuya Optical MSP-100以"納米級精度+工業(yè)級效率"重新定義行業(yè)標準，成為半導體、光電鍍膜、柔性顯示等行業(yè)的測量解決方案。

三大技術突破，解決行業(yè)核心痛點

1. 測量能力——"不可能"的樣品也能測

• φ50μm微區(qū)定位：10倍物鏡精準測量芯片焊點、Micro LED等微觀結構，分辨率達1nm。

• 0.2mm超薄挑戰(zhàn)：20物鏡技術，解決柔性OLED、光學薄膜的測量變形問題。

• 曲面自適應：半反射鏡消除背面雜光，鏡片、曲面屏無需噴涂即可直接檢測。
  ? 用戶案例：某全球TOP3光學鍍膜廠借此將曲面AR鍍膜質檢效率提升200%。

2. 實驗室精度，產線速度

• 波段精準控制：

• ±0.02%（451-950nm核心波段）——激光光學元件的黃金標準

• ±0.2%（紫外/近紅外邊緣波段）——寬光譜研究的可靠保障

• 15秒極速輸出：512元件PDA傳感器+高速數據鏈，比傳統設備快3倍以上。

3. 科研與生產的無縫銜接

• 一鍵多模態(tài)分析：

• 反射率+色度Lab*+光譜比色同步完成

• 非接觸薄膜測量保護珍貴研發(fā)樣品

• 智能數據管理：

• 多結果同屏對比，快速識別批次差異

• Excel直接生成SPC控制圖，符合ISO質量管理要求

四大行業(yè)剛需場景

行業(yè)	MSP-100的價值	競品無法實現的優(yōu)勢
半導體	晶圓微區(qū)反射率映射	50μm測量不損傷電路結構
光學鍍膜	曲面鏡反射均勻性檢測	無需背面處理，差＜0.1%
柔性顯示	超薄面板全區(qū)域掃描	0.2mm厚度下仍保持數據一致性
科研機構	材料光學特性數據庫建設	色度+反射率+薄膜數據三位一體輸出

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為什么現在必須升級到MSP-100？

• 成本節(jié)約：減少樣品預處理人工成本30%以上

• 風險控制：451-950nm波段±0.02%精度，避免激光器件批次性不良

• 未來兼容：Excel/API數據接口，無縫對接智能工廠系統

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技術參數速查
? 波長范圍：380-1050nm
? 重復性：±0.02%（451-950nm）
? 最小測量區(qū)：φ50μm
? 數據輸出：Excel/圖形化報告

精準數據驅動品質革命——MSP-100讓每一個光學特性無所遁形！