SNK粒子數測量技術分析

發(fā)布日期：2024-01-25      瀏覽次數：628

SNK粒子數測量技術分析

光學薄膜監(jiān)測技術是利用粒子可視化技術高速、實時測量粒子數量的技術。

[1] 使用粒子可視化系統(tǒng)

靜態(tài)計數法

使用圖像處理軟件包附帶的“ParticleEye"從粒子的可視化圖像中提取靜止圖像后，使用軟件包附帶的“ParticleEye SCF"對它們進行計數。

動態(tài)計數法

該方法使用可選軟件“ParticleEye DCF"在可視化現場進行實時計數。您還可以在錄制可視化視頻時進行計數。


ParticleEye DCF（視頻）

[2] 使用專門計數的系統(tǒng)

移動可視化計數裝置“Type-S"

這是一種移動式計數設備，易于現場使用，可讓您在查看手頭的監(jiān)視器的同時快速調查灰塵源和泄漏點。詳情請參閱Type-S 頁面。


S型

顆粒物產生量評價裝置“P-Wind®"

可以定量評估清潔環(huán)境中使用的產品的發(fā)塵量和生產設備的機械元件的異物泄漏情況。可以精確地檢測和計數整個數量，而不會遺漏哪怕是最少量的顆粒。這是一種有別于傳統(tǒng)吸力式計數器的新型計數評價裝置。詳情請參閱 P-Wind 頁面。


P-Wind（圖片）

[3]構建新的計數系統(tǒng)

我們可以單獨承建應用可視化技術的新型顆粒物檢測和計數系統(tǒng)。請隨時與我們聯(lián)系。
下圖是一個可以實時檢測液體中細小顆粒的系統(tǒng)示例。還可用于監(jiān)測化工管道等內流動的液體中的異物。


液體顆粒物監(jiān)測系統(tǒng)（圖）